上海上光新光学科技有限公司

 影像测量仪 VM150（上海光学仪器厂 上光新光学）
系统具有计算机二维坐标和影像测量双重功能，由内变焦物镜和CCD摄像机采集测试件实物影像，测量软件同步进行各种测量工作，显示测量结果，保存测试图样，及自动生成图文测试报告，软件具有自动寻边和工件摆正功能，并可转入CAD生成新的零件图，广泛用于机械电子等行业。
测量范围：X-Y:150*100mm,分辨力1µm.
放大倍数：30×～190×无级变倍, LED透反射照明, 快慢速传动机构.
配置：图形数据采集处理器,二维坐标和影像测量软件（自备微机）
选配：大物镜,数据处理数显表DC3000,圆工作台,顶针架,仪器工作台.
产品系列：影像测量仪VM200（测量范围X-Y:200*100mm）