上海上光新光学科技有限公司

立式光学计 JD-3（上海光学仪器厂 上光新光学）
用标准量块与被测件作比较测量，如量块、量规、线缆、板块的厚度和圆柱、球形的直径、平行平面、外螺纹及其它精密零件的外形尺寸等，是计量室必备设备和经典教学仪器之一。
测量范围：0～180mm,直接测量±0.1mm.
示值误差：±0.2µm,示值稳定性0.1µm,光学投影屏读数.
显微镜放大倍数：1000×,分划板0.001mm,LED照明.
主要附件：测钩,测头测帽,螺纹测量装置,内测装置,标准环规等.
产品系列：数显立式光学计JDG-S2.