上海上光新光学科技有限公司

光切法显微镜 9J（上海光绪仪器厂 上光新光学）
又称双管显微镜，在不破坏表面的状况下，以光切法测量零件表面的微观不平度、划痕、刻线或缺陷的深度，适用于计量检测机构、精密零件制造和科研等单位，也是经典教学仪器之一。
表面粗糙度测量范围：12.5～0.2(光洁度▽3～▽9)
不平宽度测量范围：0.7µm～2.5mm/或0.01µm～13mm.
不平度测量范围：0.8µm～80µm
物镜：7×,14×,30×,60×,测微目镜分划0.1mm.
选配：摄影摄像与图像处理与分析软件.